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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱:多功能涂鍍層測(cè)厚儀 德國(guó)菲希爾FISCHER

產(chǎn)品型號(hào):SCOPE MMS PC2

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

SCOPE MMS PC2 多功能涂鍍層測(cè)厚儀 德國(guó)菲希爾FISCHER
FISCHERSCOPE? MMS? PC2具有數(shù)據(jù)采集和測(cè)量數(shù)據(jù)處理能力,是一臺(tái)結(jié)構(gòu)小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測(cè)量系統(tǒng)。它既可以用來(lái)進(jìn)行手動(dòng)的樣品來(lái)料檢驗(yàn),也可以用于過(guò)程控制和對(duì)產(chǎn)品線進(jìn)行24小時(shí)地監(jiān)控。有為不同樣品幾何形狀和測(cè)量范圍而設(shè)計(jì)的各式各樣的探頭可供選擇。

產(chǎn)品特性Product characteristics

 

SCOPE MMS PC2 多功能涂鍍層測(cè)厚儀 德國(guó)菲希爾FISCHER 

德國(guó)菲希爾FISCHER FISCHERSCOPE® MMS® PC2多功能涂鍍層測(cè)厚儀

使用一臺(tái)儀器就可同時(shí)完成鍍層厚度測(cè)量和材料性能測(cè)試。FISCHERSCOPE® MMS® PC2具有數(shù)據(jù)采集和測(cè)量數(shù)據(jù)處理能力,是一臺(tái)結(jié)構(gòu)小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測(cè)量系統(tǒng)。它既可以用來(lái)進(jìn)行手動(dòng)的樣品來(lái)料檢驗(yàn),也可以用于過(guò)程控制和對(duì)產(chǎn)品線進(jìn)行24小時(shí)地監(jiān)控。有為不同樣品幾何形狀和測(cè)量范圍而設(shè)計(jì)的各式各樣的探頭可供選擇。

我們還設(shè)計(jì)了眾多不同的插件模塊實(shí)現(xiàn)儀器各種功能以滿足用戶的需要。模塊設(shè)計(jì)也使得儀器的升級(jí)可以隨時(shí)隨地地進(jìn)行。視實(shí)際需要,可以安裝類(lèi)似或不同的模塊。


配置舉例:
如在印制線路板生產(chǎn)中的鍍層測(cè)厚領(lǐng)域,可以在FISCHERSCOPE® MMS® PC2主機(jī)中安裝模塊BETASCOPE®, SIGMASCOPE®/PHASCOPE®, SR-SCOPE® 和PERMASCOPE®。這樣的儀器配置可以完成以下功能和應(yīng)用:
 

  • 納米薄膜(抗指紋膜), 太陽(yáng)能電池薄膜(玻璃上的CdTe層)接插件上的金鍍層,焊盤(pán)焊帶上的錫鉛合金鍍層以及光阻涂層(模塊 BETASCOPE®)。
     
  • 在貫穿孔中表面覆銅和鍍銅的厚度測(cè)量 (MASCOPE®/PHASCOPE®),不受背面銅層影響的多層板上的銅厚測(cè)量 (SR-SCOPE®)。銅上阻焊層的厚度(PERMASCOPE®
     

在汽車(chē)配套工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用。包含了PERMASCOPE® 模塊, NICKELSCOPE® 模塊以及BETASCOPE® 模塊的FISCHERSCOPE® MMS® PC2 可用于以下鍍層厚度的測(cè)量需要:

 

  • 活塞表面的石墨涂層或是在剎車(chē)片上的抗腐蝕涂層(PERMASCOPE®)。

 

  • 活塞表面的鐵質(zhì)涂層。
     

我們提供一系列插入式測(cè)試模塊使其具有zui大的靈活性

 

 


 

 

 

 

友好的用戶界面

 

FISCHERSCOPE® MMS®PC2配有大尺寸、高分辨的彩色液晶觸摸屏。觸摸屏能快速而高效地幫助您完成測(cè)量數(shù)據(jù)的采集、存儲(chǔ)、評(píng)估及文件報(bào)告。儀器使用 基于Windows? CE操作系統(tǒng)的測(cè)量軟件,與 Word? 或Excel?良好兼容。操作簡(jiǎn)單易學(xué),并且對(duì)所有測(cè)量方法操作過(guò)程都保持*。 MMS? PC2提供實(shí)際上無(wú)限的測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)空間,以及在線網(wǎng)絡(luò)的更新服務(wù)。.
 

共有三種測(cè)量結(jié)果表示方式,可即刻辨別重要信息 (Numeric Display Mode, Control Chart Display Mode, Specification Limit Display Mode)。

 

評(píng)估
 

去了用戶在對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)評(píng)估時(shí)常常需要進(jìn)行的復(fù)雜而大量的數(shù)學(xué)計(jì)算。統(tǒng)計(jì)特性可以以列表和諸如正態(tài)分布圖及柱狀圖的圖形形式查看和打印。

 

PERMASCOPE®模塊
這一插入式模塊使用電磁感應(yīng)和渦流的測(cè)試方法。
該模塊適合于測(cè)量涂鍍層厚度以及鐵素體含量:

  • 鋼和鐵(Fe)上非鐵磁性鍍層厚度,如鉻、銅、鋅、油漆、搪
    瓷或塑料在鐵基材上的厚度。
     
  • 用于測(cè)量在非磁性金屬基材上非鐵磁性非導(dǎo)電鍍層的厚度。如在鋁,銅,鋅上油漆或塑、清漆等的厚度。亦可用于測(cè)量鋁基材上陽(yáng)極氧化層的厚度。

     
  • 奧氏體焊接金屬或雙聯(lián)不銹鋼的δ鐵素體含量。
    .

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NICKELSCOPE®模塊Module NICKELSCOPE®


這一插入式模塊采用霍耳效應(yīng)方法測(cè)量鎳或鐵鍍層在非鐵基材上的厚度。
使用該模塊測(cè)量:


 

  • 非導(dǎo)電或非鐵基材上電鍍鎳層的厚度。

     
  • 厚的非鐵金屬鍍層,例如:銅,鋁或鉛鍍層在鐵或鋼上。

 

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    BETASCOPE®模塊

    這一插入式模塊采用了Beta背散射方法。幾乎可以測(cè)量在任何基材上的任何材料鍍層厚度,只要鍍層材料和基材材料元素間存在至少5個(gè)原子序數(shù)的差別。
    該模塊應(yīng)用于:

     

    • 不銹鋼上的納米薄膜(抗指紋膜)

     

    • 太陽(yáng)能電池薄膜(玻璃上的CdTe層)


     

    • 在電鍍廠用手持式探頭經(jīng)濟(jì)地測(cè)量單個(gè)的鍍層


     

    • 在油漆制品以及金屬基材上有機(jī)鍍層的厚度.


     

    • 在金屬薄板生產(chǎn)和處理工業(yè)的防腐蝕油膜,蠟,"Bonazinc"等涂層的質(zhì)量檢測(cè)

    • 薄片、紡織物

     

    SR-SCOPE®模塊

     

    這一插入式模塊采用了微電阻方法,適合于測(cè)量多層板上表面銅鍍層的厚度。尤其是薄的層積板,也是組成多層印刷線路板的起始材料上的銅鍍層,以及帶環(huán)氧間隙層的多層板上銅鍍層的厚度。

     

    • 銅的厚度在0.1至10 µm (0.04 至0.4 mils) 以及5至120 µm (0.2至4.7 mils),不受中間銅層的干擾。
       

     

     

     

    SIGMASCOPE®-PHASCOPE® 1/TEMPERATURE模塊


    該模塊采用相位電渦流法,適用于以下測(cè)量要求:

     

    • 非鐵磁性金屬的電導(dǎo)率測(cè)量(采用內(nèi)置或外置溫度傳感器可自動(dòng)補(bǔ)償溫度變化)

       
    • 非鐵磁性金屬鍍層的厚度,如鋼鐵上的鋅、銅、鋁等,尤其適合表面粗糙的情況或是在非導(dǎo)電基材上的非鐵磁性金屬鍍層測(cè)厚。

       
    • 非鐵磁性低電導(dǎo)率基材上非鐵磁性高電導(dǎo)率金屬鍍層的厚度測(cè)量,如黃銅或奧氏體材料上的銅厚測(cè)量。

       
    • 鋼鐵上鎳鍍層的厚度測(cè)量。

       
    • 阻焊材料之下的銅層的厚度。

     

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    SIGMASCOPE®-PHASCOPE® 2 模塊

    此模塊需要配合SIGMASCOPE®-PHASCOPE® 1/TEMPERATURE模塊一起使用。

     

    • 可以測(cè)量PCB板上孔內(nèi)銅層的厚度。

     

     

     

     

    PHASCOPE® DUPLEX 模塊
    此模塊集成了磁感應(yīng)法和渦流相位法。,這樣就能測(cè)量雙層系統(tǒng)。 

     

     

    • 只要一次測(cè)量就能同時(shí)測(cè)得Paint/Zn/Steel(雙鍍層)的厚度。

       


       

     

    溫度測(cè)量模塊
    此模塊連接TF100A探頭(探頭使用PT100傳感器)用以測(cè)量溫度,測(cè)量范圍0--﹢80℃(0--﹢178℉)。在某些測(cè)量模式中,溫度測(cè)量非常的有用。例如:在Beta射線反向散射法和電阻測(cè)試法中作為溫度補(bǔ)償。

     

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