產(chǎn)品名稱:數(shù)字超聲波探傷儀 LBUT30G
產(chǎn)品型號:LBUT30G
產(chǎn)品簡介:
數(shù)字超聲波探傷儀 LBUT30G專業(yè)供應(yīng)銷售 具有*的技術(shù)水平,更有良好的售后服務(wù)和優(yōu)質(zhì)的解決方案,歡迎您 的詳細信息!
數(shù)字超聲波探傷儀 LBUT30G
技術(shù)參數(shù)
名稱 | 技術(shù)數(shù)據(jù) |
掃描范圍(mm) | 0~6000 |
垂直線性誤差 | ≦3% |
水平線性誤差 | ≦0.2% |
探傷靈敏度余量 | ≧62dB(深200mmφ2平底孔) |
動態(tài)范圍 | ≧32dB |
分辨率 | ≧40dB |
頻率范圍(MHz) | 0.5~20 |
增益調(diào)節(jié)(dB) | 0~110 |
材料聲速(m/s) | 1000~9999 |
抑制 | 0~80% |
工作溫度(℃) | -27~70 |
外形尺寸(mm) | 225*170*50(LBUT30/30B) |
重量(Kg) | 1.8 |
主要功能
l 利用標(biāo)準(zhǔn)試塊手動或自動生成DAC、AVG曲線;
l 自動顯示缺陷回波位置(深度D、水平P、距離S、波幅H);
l 自由切換三種標(biāo)尺(深度D、水平P、距離S);
l 10個獨立探傷通道,可自由輸入并存儲任意行業(yè)的探傷標(biāo)準(zhǔn)(可根據(jù)用戶需求擴展);
l 可存儲300幅A形圖形、參數(shù)(可根據(jù)用戶需求擴展);
l 自動顯示缺陷當(dāng)量φ值;
l 高采樣率,低噪聲;
l 探頭方式:單晶、雙晶、穿透;
l 回波抑制;
l 回波次數(shù)分析。
輔助功能
l 自動增益、回波包絡(luò)、峰值記憶功能提高了探傷效率;
l 中英文操作界面;
l 角度和K值兩種輸入方式;
l 閘門聲光報警。
產(chǎn)品特點
l 利用PC通訊軟件可以升級儀器系統(tǒng)的功能;
l 鋰電池供電,可連續(xù)工作10小時;
l IP65標(biāo)準(zhǔn)鋁鎂合金外殼,堅固耐用,防水防塵,抗干擾能力;
l 大屏幕高亮顯示,可以滿足在陽光下、涵洞中探傷的要求。
標(biāo)準(zhǔn)配置
LBUT30/30B/30G | 1臺 |
直探頭2.25MHz3/4英寸(美國TRU-SONIC) | 1支 |
斜探頭5P10*10 60º(美國TRU-SONIC) | 1支 |
電源適配器 | 1個 |
BNC電纜 | 2根 |
PC通訊軟件 | 1套 |
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